高低溫試驗(yàn)箱的各種實(shí)際功能參數(shù)

高低溫試驗(yàn)箱的用途:

該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。

該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

高低溫箱設(shè)備的主要技術(shù)指標(biāo)

1．溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～+150℃

2．溫度波動度：±0.5℃

3．溫度均勻度：≤±2℃

4．升降溫速率：0.7～1℃/min（可根據(jù)客戶要求定制）

5。升溫速度：2～3℃/min

高低溫箱設(shè)備的安全保護(hù)裝置:

1．電源超載、短路保護(hù)

2．接地保護(hù)

3．超溫保護(hù)

4．壓縮過壓、過載保護(hù)

5．為保護(hù)設(shè)備，所有報警均會自動切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

高低溫箱設(shè)備使用現(xiàn)場的條件：

1．溫度：15℃~35℃

2．相對濕度：不大于85%RH

3．周圍無強(qiáng)烈振動、無強(qiáng)烈電磁場影響

4．周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

5．無陽光直接照射或其它熱源直接輻射

6．周圍無強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。

7．試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。

8．試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操作。

9．安裝場地通風(fēng)良好

10．單相（220V 50Hz）3KW

11．良好接地

1）高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品）的高低溫度試驗(yàn)；

2）. 本產(chǎn)品設(shè)計(jì)*合理，能適應(yīng)長期、穩(wěn)定、安全、可靠的試驗(yàn)要求，

同時配有真空透明視窗，能清晰看到工作室試驗(yàn)狀態(tài)，采用高級進(jìn)口數(shù)顯

溫控儀，顯示直觀、操作簡便。

3）. 該類產(chǎn)品主要部件采用進(jìn)口件，性能優(yōu)異，外觀美觀，可靠性好，是實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的理想選擇。

設(shè)備的結(jié)構(gòu)特征

該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。

箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)304SUS不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。

該設(shè)備主要溫度控制儀采用智能數(shù)顯溫濕度控制儀，人性化設(shè)計(jì)的操作方法，易學(xué)易用，并且不同功能檔次的儀表操作相互兼容。輸入采用數(shù)字校正系統(tǒng)，內(nèi)置常用熱電偶和熱電阻非線性校正表格，測量精確穩(wěn)定。具備位式調(diào)節(jié)和AI人工智能調(diào)節(jié)功能，0.2級精度，多種報警模式。升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。

制冷系統(tǒng)采用法國“泰康"全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管。

該設(shè)備是以下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)制造

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則